MiniTest 1100/4100/2500/4500涂層測厚儀
MiniTest 1100/4100/2500/4500涂層測厚儀具有多種用途的耐磨探頭可供選擇,具有高精度和重復(fù)性,和儲存讀數(shù)文件的功能,具體功能根據(jù)主機(jī)型號不同而有所差異,MiniTest系列儀器是微型的無損覆層厚度測量儀器。MINITEST1100/2100/3100/4100系列已經(jīng)停產(chǎn),替代型號為MiniTest 2500/4500。多年來EPK公司的測量儀已廣泛應(yīng)用于汽車、造船、航空與機(jī)械制造行業(yè)以及政府檢查機(jī)構(gòu)與尤其、電鍍等行業(yè)。MiniTest 1100-4100系列涂層測厚儀共有四種主機(jī): 1100、2100、3100和4100,四種主機(jī)各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能。所有的測頭都可以配合任一種主機(jī)使用。在選擇適用的測頭時(shí)需考慮覆層厚度、基體材料、基體形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
• F型測頭是根據(jù)磁感應(yīng)原理設(shè)計(jì)的,主要測量鋼鐵基體.上的非磁性涂鍍層。
...................例如:鋁、鉻、銅、鋅、涂料、橡膠等,也適用于合金和硬質(zhì)鋼。
• N型測頭是根據(jù)電渦流原理設(shè)計(jì)的,主要測量非鐵磁性金屬和奧氏體不銹鋼上的涂層。
...................例如:鋁、銅、鑄鋅件.上的涂料、陽極氧化膜、陶瓷等。
• FN型測頭是同時(shí)利用磁感應(yīng)原理和電渦流原理設(shè)計(jì)的,
...................一個(gè)測頭就可完成F型和N型兩種測頭所能完成的測量。
• 噴砂、噴丸表面上的涂層也可以測量。
• 測量前要在表面曲率半徑、基體材料、厚度、測量面積都與被測樣本相同的無涂層的底材上較零,才可以保證測量的準(zhǔn)確性。
1. MiniTest1100是該系列產(chǎn)品中的普及版,沒有存儲功能和統(tǒng)計(jì)功能。操作簡單、價(jià)格低廉,比較適合-些較特殊的要求,如測量很薄或很厚的覆層。
2. MiniTest2100主機(jī)可以存儲一組總共10000個(gè)測值,所有測值均可進(jìn)行統(tǒng)計(jì)評價(jià),比較適合測量對象較固定的用戶。
3. MiniTest3100主機(jī)可以存儲10000個(gè)測值,分別存在10應(yīng)用行內(nèi),個(gè)應(yīng)用行又可分為10組。如果不同的測量任務(wù)要求經(jīng)
常更換測頭進(jìn)行不同的準(zhǔn),不同的校準(zhǔn)參數(shù)和測頭參數(shù)均可分別存儲,以便隨時(shí)調(diào)用。可采用多種統(tǒng)方式對測量數(shù)據(jù)作評估和分析。可以設(shè)置極限值對生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的容差進(jìn)行控。
4. MiniTest4100主機(jī)擁有數(shù)據(jù)處理功能。共可存儲10000個(gè)測值,分別存99個(gè)應(yīng)用行內(nèi),每個(gè)應(yīng)用行又可分為98組。如果不同的測量任務(wù)要求經(jīng)常更測頭進(jìn)行不同的校準(zhǔn),不同的校準(zhǔn)參數(shù)和測頭參數(shù)均可分別存儲,以便隨時(shí)調(diào)用可對測量數(shù)據(jù)作評估和分析。可設(shè)置極限值對生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的容差進(jìn)行監(jiān)控.
MiniTest 2500/4500涂層測厚儀不僅適用于實(shí)驗(yàn)室,而且還由于其堅(jiān)固耐用的IP 65 防護(hù)等級,所以同樣適用于工業(yè)應(yīng)用。兩款機(jī)型均配備 USB輸出,可連接筆記本電腦和臺式電腦。 F型測頭是根據(jù)磁感應(yīng)原理設(shè)計(jì)的,主要測量鋼鐵基體.上的非磁性涂鍍層。例如:鋁、鉻、銅、鋅、涂料、橡膠等,也適用于合金和硬質(zhì)鋼。N型測頭是根據(jù)電渦流原理設(shè)計(jì)的,主要測量非鐵磁性金屬和奧氏體不銹鋼上的涂層。例如:鋁、銅、鑄鋅件.上的涂料、陽極氧化膜、陶瓷等。 FN型測頭是同時(shí)利用磁感應(yīng)原理和電渦流原理設(shè)計(jì)的,一個(gè)測頭就可完成F型和N型兩種測頭所能完成的測量。噴砂、噴丸表面上的涂層也可以測量。
可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
N兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能