掃描原理
掃描測(cè)量提供了一種從規(guī)則型面工件或其他復(fù)雜工件上高速采集形狀和輪廓數(shù)據(jù)的方法。
觸發(fā)式測(cè)頭可采集表面離散點(diǎn),而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù),提供更詳細(xì)的工件形狀信息。因此,在實(shí)際應(yīng)用中如果工件形狀是整個(gè)誤差預(yù)算的重要考量因素或必須對(duì)復(fù)雜表面進(jìn)行檢測(cè),掃描測(cè)量可謂理想之選。
掃描需要根本不同的傳感器設(shè)計(jì)、機(jī)器控制和數(shù)據(jù)分析方法。
雷尼紹掃描測(cè)頭*特色的輕巧無(wú)電源機(jī)構(gòu)(無(wú)馬達(dá)或鎖定機(jī)構(gòu)),具有高固有頻率,適合高速掃描測(cè)量。分離的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)直接(無(wú)需通過(guò)測(cè)頭機(jī)構(gòu)中的疊加軸)測(cè)量測(cè)針的偏移量,以獲得更高的精度和更快的動(dòng)態(tài)響應(yīng)。
掃描系統(tǒng)如何采集并分析表面數(shù)據(jù)?
掃描測(cè)頭提供連續(xù)的偏移量輸出,與機(jī)器位置相結(jié)合,從而獲得表面位置數(shù)據(jù)。進(jìn)行掃描測(cè)量時(shí),測(cè)頭測(cè)尖開(kāi)始與工件接觸,然后沿工件表面移動(dòng),采集測(cè)量數(shù)據(jù)。在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中,須將測(cè)頭測(cè)針的偏移量保持在測(cè)頭的測(cè)量范圍內(nèi)。
要想取得理想測(cè)量結(jié)果,需要傳感器與機(jī)器控制緊密集成,以及良好的濾波運(yùn)算,以將合成數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可用的表面信息。掃描驅(qū)動(dòng)算法適用于工件輪廓測(cè)量,改變掃描速度使之匹配曲率的變化(表面越平,速度越快),然后調(diào)整數(shù)據(jù)采集速率(表面變化越快,采集的數(shù)據(jù)越多)。
特性與優(yōu)點(diǎn):
SP25M模塊和測(cè)針吸盤(pán):
一系列模塊組件使SP25M用戶能夠自建自我需求的測(cè)頭能力。
每一種SM25-#掃描模塊在增益和彈簧剛性方面都經(jīng)過(guò)優(yōu)化處理,可適應(yīng)規(guī)定的測(cè)針長(zhǎng)度范圍。每一種模塊都有相匹配的SH25-#測(cè)針吸盤(pán)。
SH25-3和SH25-4測(cè)針吸盤(pán)是一根固定的碳纖維桿,上面安裝了M3測(cè)針,提供合適的工作長(zhǎng)度。
同時(shí),SP25M在使用 SM25-1 / 2 / 3 / 4 / 5掃描模塊和原裝標(biāo)準(zhǔn)測(cè)針吸盤(pán) (SH25-1 / 2 / 3 / 4 / 5) 時(shí),可以安裝曲柄式(非直式)測(cè)針配置,但是在需要較大偏置的場(chǎng)合,要實(shí)現(xiàn)理想測(cè)量性能,雷尼紹建議使用SH25-2A / 3A / 4A系列測(cè)針吸盤(pán),該測(cè)針吸盤(pán)專門用于解決此類測(cè)針組合可能導(dǎo)致的問(wèn)題。
SP25M:
直徑僅為25 mm,配備一系列掃描及觸發(fā)模塊,SP25M是世界上小型的多用途掃描測(cè)頭系統(tǒng)。
SP25M由兩個(gè)傳感器組成,包含在一個(gè)外殼中。用戶可從五個(gè)掃描模塊(可安裝長(zhǎng)度從20 mm至400 mm的M3測(cè)針)中選擇任意一個(gè),與轉(zhuǎn)接模塊(與雷尼紹的TP20系列測(cè)頭模塊兼容)進(jìn)行切換。這一功能可實(shí)現(xiàn)在單個(gè)測(cè)頭系統(tǒng)中進(jìn)行掃描和觸發(fā)測(cè)量。
SP25M小巧的尺寸和自動(dòng)吸附安裝功能使之與PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M測(cè)座兼容。它還可安裝在自動(dòng)吸附的多芯加長(zhǎng)桿上。同時(shí),這些組合具有的測(cè)觸能力,便于檢測(cè)各種零件特征。
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