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觸發(fā)式測頭測針雷尼紹Renishaw

上海篤摯儀器提供雷尼紹品種齊全的精密測針及測針附件，可用在雷尼紹的坐標(biāo)測量機(jī)測頭、機(jī)床測頭、掃描測頭以及Equator™比對儀上。

掃描測針的選型取決于掃描應(yīng)用和掃描測頭的類型。所使用測針的直徑應(yīng)與生產(chǎn)工件所用精加工刀具的直徑相同。選擇盡可能短的測針以防過度彎曲，但要確保測針足夠長以防掃描時(shí)碰撞。

直測針：

直測針是簡單且常用的測針類型，適合大多數(shù)測量應(yīng)用。測針球頭材質(zhì)為紅寶石、氮化硅、氧化鋯、陶瓷或碳化鎢。測針夾持座和測桿有一系列材料供選擇 — 鈦、碳化鎢、不銹鋼、陶瓷和碳纖維。

星形測針：

星形測針是由固定安裝在一起的測針組成的多測尖測針配置。星形測針可用于檢測多種特征，包括測針可直接接觸的各種表面和孔。此配置靈活性強(qiáng)，測尖可與各種特征接觸，無需更換測針。可以使用測針中心座安裝（多）5個(gè)測針組件，從而自行配置星形測針。

測球材質(zhì)為紅寶石、氮化硅或氧化鋯。星形測針的每個(gè)測尖都需要用與單球測針一樣的方式標(biāo)定。

針型測針:

這些針型測針不能用于傳統(tǒng)的XY軸向測量，而于螺紋牙型、特定點(diǎn)及刻劃線（按較低精度）的檢測。采用針形測針，可進(jìn)行更準(zhǔn)確的標(biāo)定及特征的精細(xì)檢測，并可用于檢測細(xì)孔的位置。

半球形測針:

半球形陶瓷測針是檢測X、Y和Z向深位特征和孔的理想選擇，只需要標(biāo)定一個(gè)球。此外，用這種大直徑測球測量可均化表面粗糙度造成的影響。

柱形測針:

柱形測針用于測量球形測針無法準(zhǔn)確接觸的金屬片、模壓組件和薄工件中的孔。還可測量各種螺紋特征，并可定位攻絲孔的中心。球端面柱形測針可進(jìn)行全面標(biāo)定及X、Y和Z向測量，因此可進(jìn)行表面測量。

盤形測針:

盤形測針是高球度測球的“截面”，用于檢測星形測針無法觸及的孔內(nèi)退刀槽和凹槽。盡管用簡易盤形測針的“球形邊緣”進(jìn)行測量與以大直徑測球的外圓進(jìn)行測量效果相同，但測球表面僅有一小部分能夠接觸到特征。因此為確保與待測特征有良好接觸，較薄的盤形測針需要仔細(xì)調(diào)整角度。

簡易盤形測針僅需要標(biāo)定一個(gè)直徑（通常使用環(huán)規(guī)），但僅限于Ｘ和Y方向的有效測量。在盤形測針上加一個(gè)“半球形滾子”即可進(jìn)行Z方向標(biāo)定和測量，但該半球形滾子的中心位置須超過測頭直徑。半球形滾子可用標(biāo)準(zhǔn)球或塊規(guī)標(biāo)定。將盤形測針繞其中心轉(zhuǎn)動并鎖定，可定位“半球形滾子”，使之與實(shí)際應(yīng)用位置適應(yīng)。

盤形測針的中心還可帶有M2螺紋，可用于固定測針中心座，這增強(qiáng)了測量深孔底部特征的靈活性（盤形測針本身難以觸測這些特征）。盤形測針有多種直徑和厚度規(guī)格，材質(zhì)通常為鋼、陶瓷或紅寶石。